Краткие доклады: Эпизод № 37 - Методы сфокусированного ионного пучка (FIB) для подготовки образцо...

Доктор Сянли Чжун из Манчестерского университета представляет новый метод подготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) in situ с использованием систем сфокусированного ионного пучка (СИП). Традиционные подходы с использованием ИИП часто используют осаждение, индуцированное ионным пучком (ИОП), для прикрепления образцов ПЭМ к опорным сеткам, но это может привести к загрязнению, ухудшающему качество данных. Новая методика позволяет избежать такого загрязнения за счет повторного осаждения материала, обработанного методом ИИП, для соединения ламелл ПЭМ с опорными сетками или микроэлектромеханическими чипами (МЭМС). В статье показано, что этот метод, основанный на повторном осаждении, позволяет получать более чистые и надежные образцы, улучшая качество экспериментов по ПЭМ при высоких температурах и облучении, а также продемонстрирована его эффективность на примере характеризации карбида кремния (SiC) в условиях, актуальных для промышленного применения. Ознакомиться с работой можно здесь: https://academic.oup.com/mam/article/31/3/ozaf029/8128038 🌐 Найдите нас на нашем сайте: www.protochips.com 👉 Подпишитесь на нас в LinkedIn: https://www.linkedin.com/company/protochips/ 👀 Есть вопросы о нашей продукции? Свяжитесь с нами здесь! https://www.protochips.com/contact/